µ-SIS -> … das Konzept
Mikroskopische Prüftechnik Photovoltaik:
In Ergänzung zu bereits im Einsatz befindlichen Kamerasystemen
ermöglicht das µ-SIS (Selektives-Inspektions-System) eine Erkennung von:
|
 |
Das Mikroskopische µ-SIS bietet im Vergleich zu den bereits im Einsatz befindlichen
Kamerasystemen, die mit einer Auflösung im Bereich von 20µm – 40µm arbeiten,
die Möglichkeit der Darstellung einer Struktur- / µ-Riss-Erkennung im Bereich von 1µm.
Das μ-SIS ermöglich es, industrielle Qualitätsprüfungen mit Auflösungen
kleiner als 1μm vorzunehmen! Das AMBIS™, ein Patent der Universität Münster,
realisiert die Bildaufnahme ohne den Mikroskoptisch bei der Bildaufnahme zu
stoppen (Faktor 20-fache Geschwindigkeit).
Mit einem vorgelagerten Kamerasystem, z.B. mit einer Zeilenkamera, werden
die verdächtigen Bereiche ermittelt und dann als Koordinaten an das Mikroskop
übermittelt. Das Mikroskop kann dann über ein Achssystem (Patent pending)
gezielte selektive Bereiche in-inline inspizieren. Unterschiedliche Oberflächen
werden dabei durch individuell entwickelte Beleuchtungskonzepte
optimal ausgeleuchtet.
Größere Bildformate bis zu 400 G-Byte und mehr sind durch den arivis Browser
realisierbar. Der arivis Browser ist ein modulares Softwaresystem für die Verwaltung,
Visualisierung und Analyse nahezu unbegrenzt umfangreicher Bilddaten. Sämtliche
Funktionalitäten, die u. a. als 2D-Bild, als 3D-Bildstapel vorliegen, können auf
normalen PCs verarbeitet werden (Option). Die AlfaVis Bildauswertungssoftware
ermöglicht die Prozesskontrolle anhand von „easy-teach“ Prüfmethoden für die
Inline-Prüfung.